更新時(shí)間：2025-09-24
CR/DR性能檢測(cè)模體用于傳統(tǒng)X線攝影和CR/DR成像的檢測(cè)裝置。檢測(cè)項(xiàng)目：均與性，空間分辨力，低對(duì)比度細(xì)節(jié)等。
CR/DR性能檢測(cè)模體用于傳統(tǒng)X線攝影和CR/DR成像的檢測(cè)裝置。
檢測(cè)項(xiàng)目：均與性，空間分辨力，低對(duì)比分辨率，可見(jiàn)光野和射野的校準(zhǔn)，偽影。
CR/DR性能檢測(cè)模體規(guī)格:1毫米厚的銅基板（300X300X1.0毫米）有：
1.動(dòng)態(tài)步進(jìn)式楔形梯，含有不同射線吸收系數(shù)的7階步進(jìn)式楔形梯：0.00,0.30,0.65,1.00,1.40,1.85,2.3毫米厚的銅厚度動(dòng)態(tài)范圍。
2.低對(duì)比度測(cè)試模體，由鋁制圓盤組成，直徑10毫米，在70KV時(shí)產(chǎn)生的對(duì)比度范圍：0.8%，1.2%，2.0%。2.8%，4.0%，5.6%。
3.分辨率檢測(cè)：0.6-5.0LP/mm，45度旋轉(zhuǎn)設(shè)計(jì)
4.不同尺寸的暗盒邊緣區(qū)域標(biāo)記
5.配25毫米厚過(guò)濾鋁及固定支架
北京偉信楚華商貿(mào)有限責(zé)任公司
地址：海淀區(qū)二里莊5號(hào)樓102室
© 2025 版權(quán)所有：北京偉信楚華商貿(mào)有限責(zé)任公司 備案號(hào)：京ICP備06053975號(hào)-2 總訪問(wèn)量：166121 站點(diǎn)地圖 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登陸
發(fā)郵件給我們：